| Os sistemas ESPI ( Electronic
Speckle Pattern Interferometry ) estão
desenhados para medir
deformações baseadas em interferometria laser.
O objecto testado é
iluminado pela cabeça do sensor
ESPI com luz laser e é gravado por uma
câmara CCD.
O padrão de
interferência provocado pelo laser e observado pela
câmara CCD inclui a informação da deformação
em cada ponto visível do objecto medido com uma
resolução de 10nm
ou 1 µm/m.
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